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愛德萬發布T5801超高速DRAM測試系統,滿足AI、HPC和邊緣應用需求

來源: 責編: 時間:2025-02-20 09:37:07 28觀看
導讀半導體測試設備領導者愛德萬測試(Advantest Corporation)發布了T5801超高速DRAM測試系統。該系統專為GDDR7、LPDDR6和DDR6等最新高速存儲器技術設計,旨在滿足AI、HPC和邊緣應用等需求。隨著存儲器技術日益復雜和高速,T580

半導體測試設備領導者愛德萬測試(Advantest Corporation)發布了T5801超高速DRAM測試系統。該系統專為GDDR7、LPDDR6和DDR6等最新高速存儲器技術設計,旨在滿足AI、HPC和邊緣應用等需求。bHw28資訊網——每日最新資訊28at.com


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隨著存儲器技術日益復雜和高速,T5801平臺應運而生,為最高速度的存儲器元件提供精準、高效的測試。bHw28資訊網——每日最新資訊28at.com


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該系統采用創新前端單元測試(FEU)架構,滿足次時代DRAM模塊的嚴格需求,達到36Gbps PAM3和18Gbps NRZ的領先效能。bHw28資訊網——每日最新資訊28at.com


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愛德萬測試ATE事業群存儲器測試事業本部長鈴木雅之表示,T5801能幫助客戶以準確、快速和可靠的方式驗證次時代DRAM效能,確保產品快速上市。bHw28資訊網——每日最新資訊28at.com


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T5801建立在愛德萬測試的領先DRAM測試解決方案基礎上,支持PAM3,創下JEDEC標準DRAM首例,展現其在GDDR7等存儲器創新方面的實力。bHw28資訊網——每日最新資訊28at.com

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