六大權益！華為8月服務日開啟：手機免費貼膜、維修免人工費
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大連創銳光譜科技宣布，他們的無損光學檢測技術取得了突破性進展，同時推出專用設備SIC-SUB-9900。該設備采用瞬態激發和散射光譜原理，結合AI識別，能高速、精準地無損檢測碳化硅（SiC）襯底晶圓位錯缺陷。
相較于傳統X光形貌分析技術，SIC-SUB-9900操作簡單、檢測速度快，性價比更高。通過大面積成像，該設備在檢測速度上實現了質的飛躍，對于6吋晶圓樣品，最快檢測時間不到17分鐘。
位錯缺陷是SiC襯底晶圓質量的關鍵指標，直接影響外延層的質量和芯片的良率。因此，SIC-SUB-9900的精準檢測、識別和統計功能對襯底晶圓生產至關重要。
創銳光譜創立于2016年，以自主技術為基礎，專注科學儀器和半導體材料檢測領域。今年早些時候，SiC-MAPPING532系統成功下線，成為全球首臺套基于瞬態光譜技術的第三代半導體缺陷檢測設備，取得了國產替代進口產品的巨大成功。
創銳光譜的不斷創新和發展也在吸引資金。今年5月，公司宣布完成數千萬元天使輪融資，由君聯資本獨家投資，用于新技術開發和檢測設備量產。
這一新聞揭示了國內半導體市場對本土檢測設備的日益關注，同時也反映出半導體檢測設備本土化是一個不可避免的趨勢。在這個快速增長的市場中，國產技術逐步獲得認可，為半導體產業的可持續發展注入了新的活力。
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