韓國半導體檢測設備專業技術企業Nextin在第三季度成功交付了其最新一代晶圓檢測設備,價值高達70億韓元。每臺設備的成本達到600萬美元,為半導體制造商提供了先進的光學圖像對比技術,用于檢測半導體元件制造過程中的微小花紋缺陷和雜質。
Aegis-DP和Aegis-II設備的推出標志著Nextin在半導體產業取得的重大突破。這些設備在半導體電路生成工藝中,通過光學圖像對比方式提高了細微花紋缺陷和雜質的檢測效率,為制造商的研發單位提供了強有力的工藝技術支持,同時提升了生產的良率。
Nextin的最新設備Aegis-3相較于Aegis-2,檢測速度提高了30%。公司計劃將更多套件供應給中國代工廠和內存芯片制造商。此外,Nextin還向其他芯片制造商提供ResQ(去除靜電的極紫外工藝)和Iris(3D晶圓檢查)等設備。
根據InvestKorea的數據,Nextin是韓國唯一專注于半導體檢測設備的技術企業,專業制造和銷售晶圓花紋缺陷檢測設備,用于檢測半導體元件制作工藝中的花紋缺陷和雜質。在半導體制作過程中,特別是在前道工藝領域,國內化率相較于后道封裝工藝仍較低。Nextin的技術突破填補了市場上對于進口設備的依賴,為韓國半導體產業帶來了新的發展機遇。
本文鏈接:http://www.tebozhan.com/showinfo-27-35741-0.htmlNextin交付新一代晶圓檢測設備
聲明:本網頁內容旨在傳播知識,若有侵權等問題請及時與本網聯系,我們將在第一時間刪除處理。郵件:2376512515@qq.com
上一篇: 突破傳統,樂金電子推出智能小屋
下一篇: 晶升股份宣布總部研發中心圓滿封頂