圖片來源:天眼查
專利摘要顯示,本申請?zhí)峁┝艘环N圖像處理方法和設(shè)備,能夠獲得較好的去除反光的效果,提高背景圖像的質(zhì)量,提升用戶體驗。該方法包括:獲取待處理圖像,待處理圖像是隔著透明介質(zhì)對目標(biāo)對象進(jìn)行拍攝得到的;基于待處理圖像的第一左視圖和第一右視圖,確定第一指導(dǎo)圖,第一指導(dǎo)圖包括目標(biāo)對象的高頻信息;將待處理圖像和第一指導(dǎo)圖輸入至訓(xùn)練好的重建網(wǎng)絡(luò)模型中,得到處理后圖像,處理后圖像為對待處理圖像進(jìn)行去反射處理得到的圖像,其中,重建網(wǎng)絡(luò)模型是基于樣本圖像、樣本圖像的背景圖像和樣本圖像的反射圖像進(jìn)行訓(xùn)練得到的,樣本圖像的背景圖像是未隔著透明介質(zhì)進(jìn)行拍攝得到的,樣本圖像的反射圖像是對透明介質(zhì)進(jìn)行拍攝得到的。(校對/劉沁宇)
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專利摘要顯示,本申請?zhí)峁┮环N存儲器的檢測方法及存儲器,涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,用于解決存儲單元和位線之間的漏電檢測復(fù)雜的技術(shù)問題,該存儲器的檢測方法包括:選通字線,通過位線向所有的存儲單元中寫入預(yù)設(shè)存儲數(shù)據(jù);關(guān)閉字線,并向位線上施加第一電壓,以使位線上的電位與存儲單元的電位不同;保持預(yù)設(shè)時間后,選通字線,通過位線讀取所有的存儲單元中的實際存儲數(shù)據(jù);將每個存儲單元的實際存儲數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)存儲數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,以判斷該存儲單元是否存在漏電。通過在所有的存儲單元中進(jìn)行預(yù)設(shè)存儲數(shù)據(jù)的寫入和實際存儲數(shù)據(jù)的讀出,且位線上的電位單獨施加,無需依次選通字線,存儲單元與位線之間的漏電檢測簡單。(校對/劉沁宇)
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